FEI präsentiert mit PHENOM am 3.5.07(14 Uhr, Airport Stuttgart Konferenzzone Terminal 1, Ebene 4) einen neuen Mikroskoptyp, der die Leistung eines Elektronenmikroskops zum Preis eines Lichtmikroskops bietet auf BRD-Info.net

(24.04.2007) (ots) - Weil praktisch jeder Benutzer das Instrument nach nur wenigen Minuten bedienen kann und innerhalb von Sekunden Vergrößerungsergebnisse bis auf die Nanoebene mit in dieser Kategorie nie da gewesener Qualität vorliegen, eröffnet PHENOM eine Vielzahl neuer und produktiver Einsatzmöglichkeiten in der Industrie und Wissenschaft. PHENOM wendet sich an Nutzer aus dem Umfeld der Industrie und Forschung und wird mit einem Preis von 62.000 Euro auch für kleinere Unternehmen und Einrichtungen einen praktikablen und erschwinglichen Zugang zur Mikroskopiewelt schaffen.

PHENOM schlägt eine Brücke zwischen der Licht- und Elektronenmikroskopie. Mit dem nur 30x60x50 Zentimeter großen Gerät kommt ein neuartiger Typ von Mikroskop auf den Markt, der bequem auf jedem Tisch Platz findet und ohne speziell geschultes Personal und aufwändige Laborbedingungen auskommt.Das Mikroskop im Tischformat zeichnet sich durch seine einfache Bedienbarkeit, leichte Integrierbarkeit, niedrige Betriebskosten und schnellen Probendurchsatz aus. Innerhalb kürzester Zeit ist ein Untersuchungsgegenstand in die Probenschleuse eingelegt, nach etwa 30 Sekunden liegt das Ergebnis auf dem Bildschirm/Touchscreen vor: Mit wahlweise 20 bis 20.000-facher Vergrößerung, einzigartiger Bildqualität und einer Partikelauflösung bis ca. 30 Nanometer.

PHENOM findet sein Einsatzfeld überall dort, wo rasch und zuverlässig Erkenntnisse über Zustand und Beschaffenheit von Oberflächen gewonnen werden müssen. PHENOM kommt in der Metall-, Kunststoff- oder Papierindustrie, im medizinischen, biologischen oder pharmazeutischen Bereich als Instrument zur Kontrolle von Fertigungs- und Qualitätsmanagement-Prozessen zum Einsatz. PHENOM identifiziert Morphologien auf Partikelebene, unterstützt bei der Untersuchung von Gefügeveränderungen und ist ein ideales Werkzeug beim Aufspüren von Bruch- und Schadensereignissen.

Originaltext: FEI Technologies Inc., Vertrieb PHENOM Deutschland Digitale Pressemappe: http://presseportal.de/story.htx?firmaid=66205 Pressemappe via RSS : feed://presseportal.de/rss/pm_66205.rss2

Pressekontakt: Information, Anmeldung zur Pressekonferenz (bis 30.4.2007): FEI Technologies Inc. Vertrieb PHENOM Deutschland Auchtertstrasse 4 DE-72770 Reutlingen

Pressekontakt: Carsten Pape FreeCall: 08000 PHENOM Telefon: +49 71 21 / 70 12 - 200 Telefax: +49 71 21 / 70 12 - 299 E-Mail: infophenom-germany@fei.com Internet: www.phenom-world.com

Teilnehmer erhalten in den Flughafen-Parkhäusern P0, P1, P2, P4, P8, P9, P10 eine Ermäßigung von 50%.

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