Neues optisches Profilometer auf der Intersolar - FRT präsentierte budgetfreundliches Oberflächenmessgerät MicroSpy Profile |
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| (03.06.2009) (ots) - Fries Research & Technology (FRT),
Spezialist für hochauflösende, zerstörungsfreie und automatisierte
3D-Oberflächenmesstechnik, zieht ein positives Intersolar-Fazit. "Wir
sind zufrieden mit den Besucherzahlen. Das Interesse an
leistungsstarken Messtechniklösungen für die Produktion von
Solarzellen ist immens. In den vergangenen drei Jahren haben wir z.B.
mit unseren Profilometern in der Solarbranche Zuwachsraten von 25
Prozent verbucht", verrät Geschäftsführer Dr. Thomas Fries. Auf der
Intersolar präsentierte FRT das neue Profilometer MicroSpy Profile (
http://www.profilometer.com/de ) für den günstigen Einstieg in die
optische Oberflächenmesstechnik. Solarwafer präzise, schnell und zerstörungsfrei untersuchen Der MicroSpy Profile, ein neues optisches Profilometer von FRT, ermöglicht den günstigen Einstieg in die berührungslose 2D- und 3D-Oberflächenmesstechnik. Der MicroSpy Profile ist als sehr leistungsfähiges und zugleich wirtschaftliches Oberflächenmessgerät konzipiert und für die optische scannende Messung von Rauheit, Kontur und 3D-Topographie an Solarwafern einsetzbar. Dank leistungstarker Sensortechnik liefert das FRT Profilometer Ergebnisse auf fast allen Oberflächen und Materialien - präzise und schnell. Je nach Sensor-Ausstattung sind dabei Höhenmessbereiche zwischen 300 µm bis 3 mm und eine vertikale Auflösung von 3 nm erreichbar. Aufgrund des günstigen Einstiegspreises und der Vielseitigkeit des neuen Geräts sind die Einsatzgebiete und -möglichkeiten weit gefächert. In der Solarbranche wird das Oberflächenmessgerät zum Beispiel zur Charakterisierung der Güte von Kontaktstreifen (sog. Finger) auf einem monokristallinen oder multikristallinen Solarwafer, mittels derer der Strom abgeführt wird, eingesetzt. Führende Solarwafer Hersteller wie die Q-Cells AG, REC ScanWafer oder Wacker Schott Solar setzen bereits auf optische Profilometer von FRT in Forschung und Entwicklung sowie in der begleitenden Produktionskontrolle. Damit sparen sie Material ein, erhöhen den Wirkungsgrad ihrer Produkte und eröffnen neue Möglichkeiten für die Qualitätskontrolle. Informieren Sie sich über das neue Profilometer MicroSpy Profile: http://www.profilometer.com/de Originaltext: FRT Fries Research & Technology GmbH Digitale Pressemappe: http://www.presseportal.de/pm/71527 Pressemappe via RSS : http://www.presseportal.de/rss/pm_71527.rss2 Pressekontakt: Dr. Thomas Fries FRT Fries Research & Technology GmbH Friedrich-Ebert-Straße 51429 Bergisch Gladbach Tel.: 02204 842430 E-Mail: info@frt-gmbh.com www.frt-gmbh.com Für die Nachricht "Neues optisches Profilometer auf der Intersolar - FRT präsentierte budgetfreundliches Oberflächenmessgerät MicroSpy Profile" übernehmen wir keine Haftung für Richtigkeit oder Volständigkeit. Die inhaltliche Haftung liegt beim presserechtlichen Meldungsgeber: ots / www.frt-gmbh.com 318147 |
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